About UsServiceContact Us

Tuotteet: Kalvon paksuus

Nanometrics 210 System - MYYTY

Nanometrics-210-system.jpg

Tekninen Synopsis

Film mittausjärjestelmä

Paksuusalue

* 100-500,000 Ängströmiä

Spot koko

* 50ym 5X tavoite
* 25ym 10x tavoite
* 6.5ym 40x tavoite

Uusittavuus

* 5A + tai - 5%
* Riippuu kalvolajiin
* Mittauksen kesto 2,5 sekuntia (tyypillinen)

Kalvolajeja

* TiN on Silicon
* Monikiteistä on Oxide
* TiN on Oxide
* Oxide on Silicon
* Negative Vastusta on Silicon
* Negative Vastusta on Oxide
* (Paksu Films) 115V 50/60 Hz

Käännä Lacar Industries sisään language:

English flagItalian flagKorean flagChinese (Simplified) flagChinese (Traditional) flagPortuguese flagGerman flagFrench flagSpanish flagJapanese flagArabic flagRussian flagGreek flagDutch flagBulgarian flagCzech flagCroatian flagDanish flagFinnish flagHindi flagPolish flagRomanian flagSwedish flagNorwegian flagCatalan flagFilipino flagHebrew flagIndonesian flagLatvian flagLithuanian flagSerbian flagSlovak flagSlovenian flagUkrainian flagVietnamese flagAlbanian flagEstonian flagGalician flagMaltese flagThai flagTurkish flagHungarian flagBelarus flagIrish flagIcelandic flagMacedonian flagMalay flagPersian flag