Productos: profilers superficie
Dektak IIa
- Sistema de dixitalización programable lineal usado para a medición precisa sobre as características verticais que varían en altura de 100 - 655.000 Angstroms
- Resolución Vertical 5 Angstroms, comprobación en tempo 4 - 65 segundos
- 12,5 pluma mícron cun radio 10 - forza de seguimento 50mg
- Prácticas pode soportar ata un "wafer diámetro ou pezas de ata 3/4" 5 mm
- Máximo de 1.000 puntos de datos
- 3 velocidades de dixitalización
- Microscopio 70x é estándar
