अपनी कक्षा में बेहतरीन सतह profilers. Dektak 3030 भूतल Profiler का एक उन्नत सतह प्रोफ़ाइल माप प्रणाली है, जो सही ऊर्ध्वाधर 131 माइक्रोन से सब्सट्रेट सतहों की एक विस्तृत विविधता पर 50 angstroms ऊंचाई में लेकर सुविधाओं के उपाय है.

तकनीकी विनिर्देश

• लेखनी: 12.5 माइक्रोन त्रिज्या (डायमंड)
• स्कैन: एक्स: 50 मिमी माइक्रोन-50
• z: 100 एक 131 माइक्रोन
• z संकल्प: 1 Å/65 कश्मीर एक
• 10 Å/655 कश्मीर एक
• 20 Å/1310 कश्मीर एक
• बल: 1-40 मिलीग्राम
• ज़ूम: 35x-200x
• स्पीड रेंज स्कैन: कम, मेड, उच्च
• Leveling: पुस्तिका, दो बिंदु प्रोग्राम या कर्सर समतलन
• लेखनी सेना ट्रैकिंग: निर्देशयोग्य, 1-40 मिलीग्राम (0.01-0.4 milli न्यूटन)
• अधिकतम नमूना मोटाई: 45 मिमी (1.75 इंच)
• अधिकतम नमूना वजन: 0. किलोग्राम (1 lb.)
• नमूना स्टेज व्यास: 165 मिमी (6.5 इंच)
• नमूना स्टेज अनुवाद: एक्स अक्ष, ± 76 (± 3 इंच) मिमी (केन्द्र से)
• वाई अक्ष, 76 मिमी (3.0 इंच)
• नमूना स्टेज रोटेशन: थीटा, 360 °
• बिजली आवश्यकताओं: 100/115/220 Vac ± 10%, 50-60 हर्ट्ज, 200 वीए
• वार्म अप समय: 15 मिनट अधिकतम स्थिरता के लिए सिफारिश की
• तापमान आपरेटिंग: 21 डिग्री सेल्सियस ± 3 डिग्री सेल्सियस (70 ° F ± 5 ° फा)

दस्तावेज़ीकरण और प्रिंटर और एक दिन में 30 वारंटी के साथ आता है.