Salah satu daripada profilers permukaan terbaik dalam kelasnya. Dektak 3030 Permukaan Profiler adalah sistem pengukur profil permukaan maju, yang tepat mengukur ciri menegak antara ketinggian dari 131 mikron untuk 50 angstroms pada pelbagai permukaan substrat.

Spesifikasi Teknikal

• Stylus: 12,5 μm jejari (Diamond)
• Scan: x: 50 μm-50 mm
• z: 100 Å-131 μm
• z Resolusi: 1 Å/65 K Å
• 10 Å/655 K Å
• 20 Å/1310 K Å
• Berkuat kuasa: 1-40 mg
• Zoom: 35x-200x
• Mengimbas Ranges Speed: Rendah, Med, Tinggi
• Meratakan: Pengguna, dua mata meratakan diprogramkan atau kursor
• Stylus Penjejakan Pasukan: Diprogramkan, 1-40 mg (0,01-,4 mili Newtons)
• Contoh Ketebalan maksimum: 45 mm (1,75 inci)
• Maksimum Sampel Berat: 0. Kg (£ 1)
• Diameter sampel Peringkat: 165 mm (6.5 inci)
• Terjemahan sampel Peringkat: X Axis, ± 76 mm (± 3 inci) (dari pusat)
• Y Axis, - 76 mm (3.0 inci)
• Putaran Peringkat sampel: Theta, 360 °
• Kuasa Keperluan: 100/115/220 Vac ± 10%, 50-60 Hz, 200 VA
• Masa memanaskan badan: 15 minit yang disyorkan untuk kestabilan maksimum
• Operasi Suhu: 21 ° C ± 3 ° C (70 ° F ± 5 ° F)

Didatangkan dengan dokumentasi dan pencetak dan jaminan masa 30 hari.