Een van de mooiste oppervlak profilers in zijn klasse. De Dektak 3030 Surface Profiler een geavanceerde oppervlakteprofiel meetsysteem, die nauwkeurig gemeten verticale elementen variërend in lengte van 131 micron en 50 Angstrom op allerlei substraatoppervlakken.

Technische specificaties

• Stylus: 12,5 micrometer straal (Diamond)
• Scannen: x 50 urn-50 mm
• z 100 Å 131 urn
• z Resolutie: 1 Å/65 K Å
• 10 Å/655 K Å
• 20 Å/1310 K Å
• Force: 1-40 mg
• Zoom: 35x-200x
• Scansnelheid Ranges: Laag, Half, Hoog
• Leveling: Handmatig, twee-punts programmeerbaar of cursor nivellering
• Stylus Tracking Force: Programmeerbare, 1-40 mg (0,01-0,4 milli Newton)
• Maximale Voorbeeld Dikte: 45 mm (1,75 inch)
• Maximum Sample Gewicht: 0. Kg (1 pond)
• Voorbeeld Stage Diameter: 165 mm (6,5 inch)
• Voorbeeld Stage Vertaling: X-as, ± 76 mm (± 3 inch) (vanuit het midden)
• Y-as, - 76 mm (3,0 inch)
• Voorbeeld Stage Rotatie: Theta, 360 °
• Voeding: 100/115/220 Vac ± 10%, 50-60 Hz, 200 VA
• Warm-up tijd: 15 minuten aanbevolen voor maximale stabiliteit
• Bedrijfstemperatuur: 21 ° C ± 3 ° C (70 ° F ± 5 ° F)

Wordt geleverd met documentatie en printer en een 30 dagen garantie.