หนึ่งในดีที่สุด profilers พื้นผิวในระดับนี้ Profiler Dektak พื้นผิวเป็นพื้นผิว 3030 รายที่ทันสมัย​​ของระบบการวัดที่ถูกต้องตามแนวตั้งวัดคุณสมบัติหลากหลายในความสูงจาก 131 ไมครอนถึง 50 angstroms ที่หลากหลายของพื้นผิววัสดุ

คุณสมบัติทางเทคนิค

• สไตลัส: รัศมี 12.5 ไมครอน (เพชร)
• สแกน: x: 50 มม. -50 ไมครอน
• z: 100 A-131 ไมครอน
• มติที่ z: 1 A Å/65 K
• 10 A Å/655 K
• 20 ÅÅ/1310 K
• กองทัพ: 1-40 มก.
• ซูม: 35x-200x
• สแกนช่วงความเร็ว: ต่ำ, Med, สูง
• Leveling: คู่มือการใช้งานทั้งสองจุด leveling โปรแกรมหรือเคอร์เซอร์
• สไตลัสการติดตามภาวะการทำงานของ: Programmable, 1-40 mg (0.01-0.4 นิวตันหนึ่งในพัน)
• ความหนาของตัวอย่างสูงสุด: 45 มม. (1.75 นิ้ว)
• น้ำหนักตัวอย่างสูงสุด: 0 กิโลกรัม (1 ปอนด์)
• เส้นผ่านศูนย์กลางขั้นตัวอย่าง: 165 มม. (6.5 นิ้ว)
• การแปลขั้นตอนตัวอย่าง: แกน X, ± 76 มม. (± 3 นิ้ว) (จากศูนย์)
• แกน Y, - 76 มม. (3.0 นิ้ว)
• การหมุนขั้นตัวอย่าง: Theta, 360 °
• ความต้องการพลังงาน: 100/115/220 Vac ±% 10, 50-60 Hz, 200 VA
• เวลาอุ่นเครื่อง: 15 นาทีที่แนะนำสำหรับการมีเสถียรภาพสูงสุด
• ปฏิบัติการอุณหภูมิ: 21 ° C ± 3 ° C (70 ° F ± 5 ° F)

มาพร้อมกับเอกสารและเครื่องพิมพ์และการรับประกัน 30 วัน