在同類產品中最優秀的表面廓之一。 在的Dektak 3030表面輪廓是一個先進的表面輪廓測量系統，精確測量不等垂直高度從131微米到50埃在基板表面的各種功能。

技術規格

• 手寫筆： 12.5 微米的半徑（鑽石）
• 掃描： X：50 微米50毫米
• Z：100×131微米
• Z分辨率： 1Å/65K A
• 10Å/655K A
• 20Å/1310K A
• 生效日期： 1-40毫克
• 變焦： 35X-200X
• 掃描速度範圍： 低，中，高
• 調配： 手冊，兩個點的可編程或光標平
• 觸筆跟踪隊： 可編程1-40毫克（0.01-0.4毫牛頓）
• 最大樣品厚度： 45毫米（1.75英寸）
• 最大樣品重量： 0。 公斤（1磅）
• 樣品台直徑： 165毫米（6.5英寸）
• 樣品階段的翻譯： X軸 ，±76毫米（±3英寸）（中心）
• Y軸- 76毫米（3.0英寸）
• 樣品台旋轉： 西塔，360°
• 電源要求： 100/115/220 VAC±10％,50-60赫茲，200 VA部
• 預熱時間： 15分鐘最大的穩定性，建議
• 工作溫度： 21℃±3℃（70°F±14°F）

自帶的文件和打印機和一個30天的保修期。